什麼是成像輝度計? 應用與特性

簡介
什麼是成像輝度計?
成像輝度計,例如 UPRtek 成像輝度計,是一種專門的光學量測裝置,結合了高解析度相機與精確的光度濾光片,用以量測整個影像的空間亮度與色彩分佈。此裝置可擷取每個像素的詳細資料,因此非常適合評估顯示器、LED 和照明系統的均勻度、亮度和色彩一致性。
成像輝度計的準確度如何?
它可同時測量多個點及整個發光面,因此適用於評估顯示器或大型照明系統的均勻度、瑕疵和色彩一致性。
透過使用分光輻射輝度計進行多點校準,成像輝度計可以解決與相機的視場有關的問題,並增強平場均勻性。
- 什麼是成像輝度計?
- 成像輝度計的準確度如何?
- 成像輝度計的應用有哪些?
- 如何使用成像輝度計?
- 成像輝度計與分光輻射輝度計的差異是什麼?
- UPRtek 成像輝度計的特點
- 成像輝度計常見問答 (FAQ)
- 成像輝度計的挑戰
成像輝度計的應用有哪些?
它可同時測量多個點及整個發光面,因此適用於評估顯示器或大型照明系統的均勻度、瑕疵和色彩一致性。 成像輝度計在測量效率和測量速度方面表現較佳。
成像輝度計廣泛應用於:
顯示器測試:
針對 LCD、OLED、miniLED 和 microLED 等技術,評估亮度、均勻度和色彩一致性。
照明系統:
評估 LED、汽車照明和數位看板的亮度與色彩分佈。
品質控制:
確保均勻性並辨識生產線上的瑕疵。
光學檢驗:
分析虛擬成像系統 (例如 AR 眼鏡) 和 microLED 顯示器等小型裝置。
車用顯示器及智慧座艙顯示:
均一性、MURA 與 Black Mura 測試,用於汽車顯示器光學量測。
如何使用成像輝度計?
事前準備
包括設定測試環境、選擇測試圖案、確保被測物 (如顯示器) 經過適當的預熱或老化處理、調整成像輝度計的位置,以及確保適當的工作距離,以使視場 (FOV, Field of View) 與被測物的尺寸匹配。
校正:
- 設備校正:使用標準光譜輻射計或標準光源對成像輝度計進行校正。
- 請依照製造商的指引進行校正程序,以確保亮度與色度的準確性。
- 對焦調整:調整成像輝度計鏡頭的焦距,確保顯示器的像素或測試圖案清晰銳利。 此外,可使用軟體的即時預覽功能來確認對焦是否正確。
進行量測:
- 設定待測區域(或俗稱的感興趣領域)
- 均勻度量測
- MURA測試
- Gamma 與對比度測試
- 色彩準確度測試
數據分析:
- 生成報告(亮度均勻度圖、色度 MURA 缺陷的嚴重程度與位置等)
- 匯出結果(例如 CSV、PDF 或影像)
成像輝度計與分光輻射輝度計的差異是什麼?
分光輻射輝度計
透過高精度的光譜分析進行單點光源測量,適用於研究與校正。
成像輝度計
可針對整個畫面進行測量,更適合用於評估均勻度、缺陷及大範圍區域,相較於單點測量更加高效。
UPRtek MA 系列成像輝度計代表最先進的成像測量技術,兼顧了速度、精確度與多功能性的平衡,適合生產線上與研究環境。
UPRtek 成像輝度計的特點
- 先進演算法:
透過計算方法分析光學感測數據,提供自動對焦、MURA(不均勻性)分析及待測區域(ROI)量測等功能。 - 空間光與色彩量測:
成像輝度計擷取影像中每個像素的資料,可詳細分析亮度、色彩均勻度和亮度分佈。 - 高精度校準:
這些裝置通常使用分光輻射輝度計做為校正光度濾光片的參考工具,以確保量測的準確性。 我們的演算法亦結合訊號處理技術,以提升量測精度。 - 動態亮度範圍:
配備中性密度 (ND) 濾光片,成像輝度計能處理從低到極高強度的各種亮度等級。 65MP規格支援最高可至 1億尼特,適用於microLED等超高亮度測量需求。 - 快速有效的分析:
我們開發演算法與感測技術,以提升量測速度並加快數據處理時間。 相較於其他成像輝度計,UPRtek 的成像輝度計量測時間可達 1 至 2 秒,特別適用於高產量的生產環境。
成像輝度計常見問答 (FAQ)
1. 成像輝度計可以測量哪些項目?
- 亮度(Luminance)
- 色度(色彩座標,通常以 CIE 色彩空間表示)
- 對比度
- Gamma 曲線
- 顯示器均勻度
- MURA(顯示器的不均勻現象)
2. 成像輝度計能偵測 MURA 嗎?
是的,成像輝度計常用於顯示器的 MURA 分析。 成像輝度計可識別並量化缺陷,例如暗斑、亮度不均或色彩不均勻等問題。
3. 成像輝度計可用於車用顯示器與車用照明嗎?
當然可以啊! 成像輝度計常用於評估車輛的儀表板顯示器、HUD(抬頭顯示器)及車內環境照明。
4. 選購成像輝度計時應考量哪些因素?
- 量測精度與速度
- 感測器解析度
- 支援的顯示器類型,包括應對調光問題的能力
- 軟體功能與自動化相容性
- 成本與廠商的技術服務
成像輝度計的挑戰
成像輝度計設計上配置了相機模組與光度濾光片,用來擷取整個空間區域的亮度與色彩資料,但由於存在固有的挑戰,因此必須使用分光輻射輝度計進行校正。 以下是詳細的技術分析,說明為何此一校正是至關重要的:
1. 平場校正與均勻性
- 挑戰:
成像輝度計可測量整個影像感測器(例如 CMOS 或 CCD 感測器)的光強度和顏色。 這些感測器表面的感光度可能不均勻,導致測量資料出現亮度和顏色梯度等不準確現象。 - 解決方案:
使用分光輻射輝度計進行校正,可確保成像輝度計補償像素與像素之間的靈敏度差異,產生「平場」反應。 此修正可確保在整個視場 (FOV) 內進行一致的測量。
資料來源:techtarget
2. 視角依賴性與光學像差
- 挑戰:
成像輝度計會受到視角誤差的影響,因為- 相機光學(鏡頭)可能會產生空間扭曲、色差和暈影效應(邊緣顯得較暗)。
- 以斜角度進入鏡頭的光線可能無法均勻地通過濾光片和鏡頭,導致色彩和亮度不準確。
- 解決方案:
分光輻射計可在參考角度提供精確的單點測量,通常是被測面的法線角度。 將這個角度與成像輝度計的測量結果比較後,就可以進行修正,以計算視角關係和光學失真。
3. 彩色濾光片的光譜不匹配
- 挑戰:
成像輝度計使用 RGB 或 XYZ 濾光片來模擬人眼的反應 (CIE 1931配色函數)。 但是- 這些濾光片都是近似值,可能無法完全且完美地符合 CIE 配色函數。
- 任何偏差(光譜不匹配)都有可能會在色彩量測過程中產生誤差,尤其是在量測 OLED或 microLED等光譜複雜的光源時。
- 解決方案:
分光輻射輝度計可直接量測光源的光譜功率分佈。 此資料可用於校準成像輝度計的彩色濾光片,補償錯配的情況,並確保準確的色度值 (例如 CIE XYZ、u’v’、CCT)。
4. 時間與空間校正
- 挑戰:
由於感測器老化、環境條件或機械因素,成像輝度計一樣會隨時間漂移。 此外,在生產過程中也可能出現空間非線性現象(例如,整個 FOV 範圍內的反應差異)。 - 解決方案:
使用分光輻射輝度計進行定期重新校正,可確保成像輝度計仍可追溯至出廠標準,長時間保持精確度。 包含了校準亮度響應等級的線性誤差。
小結:校正對於成像輝度計的重要性
成像輝度計使用數千萬或數百萬像素的空間資料,而分光輻射輝度計擅長於高光譜保真度的單點測量。 透過參考分光輻射輝度計的資料:
- 平場校正可修正整個影像感測器的不均勻性。
- 視角校正可減少相機光學的誤差。
- 光譜校正可補償濾光片的錯配或不匹配性。
- 可追蹤性與精確度可長時間保持,確保各種應用的可靠性。
這種相輔相成的關係可讓成像輝度計提供快速、空間解析度高的量測,同時維持與常被作為標準機使用的分光輻射輝度計相關的高準確度。
結論
UPRtek 成像輝度計是一款多功能的儀器,廣泛應用於品質控制、顯示測試和生產環境。 其先進的功能使其成為需要高效率、高速評估複雜視覺及照明系統的專業人士的不二之選。 與單點測量工具不同,成像輝度計一次擷取即可分析整個表面,是高通量評估最有效的解決方案。
我們開發了自有演算法來分析從光學感測獲得的資料,它涉及訊號處理技術,以提高量測準確度。
UPRtek 成像輝度計提供多種解析度選擇,以滿足不同應用場景的量測需求,包括 MA120S/MA120C(1200 萬像素)、MA310S(3100 萬像素)及 MA650S(6500 萬像素)。 最出色的成像輝度計。
從像素到極致完美:
UPRtek 成像輝度計重新定義色彩量測
參考文獻
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